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Unser besonderes Messehighlight für Sie: Unser neues dynamisches Halbleiter Testsystem DTS8765neo, das Ihnen nie da gewesene Möglichkeiten beim Testen eröffnet.
DTS8765neo ist ein dynamisches Testsystem für Leistungshalbleiter wie z.B. MOSFETs IGBTs, und Module unterstützt eine umfassende Palette an dynamischen "Safe Operating Area" Prüfungen sowie alle Standard-Tests nach IEC 60747-7, -8 und -9.
Der DTS8765neo besticht durch herausragende Leistungsmerkmale:
- bis zu 2.000 V / 20.000 A
- kurze Testzeiten < 500 ms
- Extrem geringe Streuinduktivität (bis hinunter zu 5 nH)
Weitere Vorteile:
- Erweiterbar für statische und dynamische Tests auf einem Testsystem
- Flexibel und modular erweiterbar für alle Funktionalitäten
- Einfache Bedienung: Kann durch Bedienpersonal betrieben werden
- Geringer Flächenbedarf
- Handler-Unabhängig: Kurze Integrationszeiten für neue DUTs
- Kosteneffizient: reduziert die Kosten/Test erheblich
Noch mehr Highlights auf unserem Stand:
- Unser innovatives statisches Halbleiter Testsystem STS8760neo, das besonders schnelle, parallele Multi-station und Multi-Site Test ermöglicht
- Die Hochspannungs SMU AXV7680, die Ausgangspannungen bis zu 10 kV bietet
- Unsere zuverlässigen PXI Instrumente für all Ihre Herausforderungen im Bereich Messen und Testen
Wir freuen uns auf Ihren Besuch!
