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Cost down und System Vereinfachung - 1000A bei 300µs

Der Hochleistungs-Halbleiter-Test stellt Entwickler oft vor Herausforderungen. In unserem aktuellen Artikel, erschienen in der Fachzeitschrift ElektronikPraxis und auf Englisch auf der Plattform Evaluation Engineering, beschäftigen wir uns genau mit dieser Thematik. Anhand des Beispiels eines Drain-Source-Widerstands RDS(on) zeigen wir Vor- und Nachteile beim Messen mit Gleichstromquellen und Strom-Pulsquellen. Hier ein Auszug aus dem Artikel:

Der Bedarf an Hochleistungs-Halbleitern wie Dioden, MOSFETs oder IGBTs wird auch in den nächsten Jahren weiter ansteigen. Treiber sind vor allem die regenerativen Energien, die Elektromobilität oder industrielle elektronische Antriebe, die leistungsfähigere Komponenten benötigen. Der Test dieser Komponenten ist für Testingenieure nicht trivial, da Ströme und Spannungen stark angestiegen sind und auch künftig auf einem hohen Niveau bleiben werden.

Für eine effiziente Serienproduktion von Halbleitern erfolgen die Tests in verschiedenen Prozessschritten. Das beginnt von der Ebene des Front-End-Wafers, dem sogenannten Bare-Die, bis zum Back-End. Bei einem Back-End handelt es sich um ein diskretes Bauteil. Schließlich reicht die Produktionskette bis zum Endgerät. Geprüft wird auf eine gleichbleibend hohe Qualität und wie zuverlässig die Bauteile und Geräte sind. Auf der anderen Seite ist es wichtig, ausgefallene Teile schnell zu erkennen. Gute Cost-Down-Ergebnisse lassen sich dann erreichen, wenn die Testspezifikationen in jedem Prozessschritt vollständig abgedeckt sind. Allerdings ist das nicht immer einfach.


Link zum kompletten Deutschen Artikel:
"Der Drain-Source-Widerstand eines MOSFETs"

Link zum Englischen Artikel:
"Cost-reduction and simplification: RDSon static parameter DC testing vs. pulse testing"

Sollten Sie vor der Herausforderung stehen, ein statisches oder dynamisches Testsystem in Ihren Produktionszyklus implementieren zu müssen, helfen wir Ihnen dabei gerne weiter. Hier geht es zum Kontakt.

RDS(ON)-Testsystem
Unser RDS(ON)-Testsystem auf der Electronica mit Tester