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Cost down und System Vereinfachung - 1000A bei 300µs

Der Hochleistungs-Halbleiter-Test stellt Entwickler oft vor Herausforderungen. In unserem aktuellen Whitepaper beschäftigen wir uns mit dem Beispiel eines Drain-Source-Widerstands RDS(on) und zeigen Vor- und Nachteile beim Messen mit Gleichstromquellen und Strom-Pulsquellen.


Link zum Deutschen Whitepaper:
"Cost down und System-Vereinfachung 1000A High Current RDS(on) Static Parameter DC-Tests vs. Puls-Tests @ 300μs"

Link zum Englischen Whitepaper:
"Cost-reduction and simplification: RDSon static parameter DC testing vs. pulse testing"

Sollten Sie vor der Herausforderung stehen, ein statisches oder dynamisches Testsystem in Ihren Produktionszyklus implementieren zu müssen, helfen wir Ihnen dabei gerne weiter. Hier geht es zum Kontakt.

RDS(ON)-Testsystem
Unser RDS(ON)-Testsystem auf der Electronica mit Tester